Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscra av Kaupp, Gerd – Bok & Bräde
Fri frakt över 499 kr
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscra
Engelska

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscra

av Kaupp, Gerd
3 363 kr
Beställningsvara – leveranstid 1–3 veckor
‹ Tillbaka till katalogen
ISBN
9783642066634
Förlag
Springer-verlag Berlin and Hei
Format
Pocket
Utgivningsår
2010
Språk
Engelska
Tillagd i varukorgen